智慧光學檢測創新實踐 封測打線機光源檢測解決方案
市場挑戰
封測晶元使用的打線機，其精準度高度影響IC良率。而精準與否，打線機上的CCD是關鍵，CCD擷取影像的品質會因光源的穩定度及照度而有所影響。一般打線機大多採用特定波長色光作為CCD的影像光源，特定波長光源以及打線機整體結構的侷限性，使得光源量測上必須提供高度客製化的解決方案。
解決方案
宇瞻科技提供的打線機CCD照度量測方案，採用分光式照度計與外觀薄型設計，能突破打線機整體結構限制。達到光源校正檢測需求。
特點
經緯度校準
開創經緯度校準，精準定位量測
軟體對應
人性化軟體，輕鬆建立量測標準
專屬客製
客製化外殼，適用於各品牌機台
支援不同光源
專業演算法，方便不同光源校準
檔案管理
簡易存檔，利於資料管理
成效
宇瞻科技提供的打線機CCD照度量測方案，突破打線機結構限制，將分光式照度計薄型化設計，達成光源校正最佳效果。
