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智慧光學檢測創新實踐 封測打線機光源檢測解決方案

市場挑戰

封測晶元使用的打線機,其精準度高度影響IC良率。而精準與否,打線機上的CCD是關鍵,CCD擷取影像的品質會因光源的穩定度及照度而有所影響。一般打線機大多採用特定波長色光作為CCD的影像光源,特定波長光源以及打線機整體結構的侷限性,使得光源量測上必須提供高度客製化的解決方案。

解決方案

宇瞻科技提供的打線機CCD照度量測方案,採用分光式照度計與外觀薄型設計,能突破打線機整體結構限制。達到光源校正檢測需求。

穩固IC封裝生產品質!

藉由維持CCD光源品質,保障產能與品質穩定

特點

經緯度校準

開創經緯度校準,精準定位量測

軟體對應

人性化軟體,輕鬆建立量測標準

專屬客製

客製化外殼,適用於各品牌機台

支援不同光源

專業演算法,方便不同光源校準

檔案管理

簡易存檔,利於資料管理

成效

宇瞻科技提供的打線機CCD照度量測方案,突破打線機結構限制,將分光式照度計薄型化設計,達成光源校正最佳效果。