本設備為針對Micro LED模組與微型光學鏡組開發之自動化光學檢測系統，專精於檢出微米級(µm)的細微瑕疵。系統採用高精度光學配置，結合穩固的硬體架構，旨在提供精準的影像判定與數據統計功能。
-微米級檢測精度：系統可檢出2µm以上的異物、刮痕等瑕疵項目。
-高穩定結構設計：檢測站主體採高穩定花崗岩結構，結合氣浮防震技術，有效隔離環境震動對精密檢測的影響，確保成像品質的一致性。
-防靜電/防塵對策：符合ANSI/ESD S20.20防護原則，並配備 HEPA 過濾系統，確保檢測過程在高潔淨度且無靜電干擾的環境下進行。
-彈性式檢測載台：採用抽換式平台設計，能快速更換待測物，具備高檢測彈性與操作效率。
-智慧化軟體整合：支援自動化掃碼(Bar code)紀錄，並具備與產線MES/ERP系統連線之功能，實現數據即時拋轉與生產歷程追蹤。
Micro LED 顯示與相關製程產業
2µm以上的極微小異物、刮痕等瑕疵
1.入料定位：將待測物放置於抽換式載台，利用槽位/孔位與卡榫完成重力定位。
2.序號讀取：掃描系統自動讀取產品序號(Bar code)
3.掃描檢測：藉由X-Y-Z運動系統帶動垂直下視配置之相機進行拍攝，檢測速度(UPH)為100-300pcs。
4.影像分析：AOI軟體依據設定參數進行瑕疵特徵提取與良品不良品(OK/NG)判定。
5.數據產出：檢測結果即時顯示於控制台，並同步將資料拋轉至MES或ERP系統
*設備資訊僅供參考，實際需依檢測樣品與產線情形進行詳細評估與調整
*實際規格、機台與檢測項目，均可依需求進行客製化彈性調整，歡迎洽詢宇瞻智動化顧問。
