實績案例

Case Studies

面板相關材料AOI瑕疵檢測

現行許多中小型的面板廠在材料檢驗或完成品的品質檢驗仍仰賴人工檢驗,尤以仰賴資深的作業員進行品質控管,在時效上和良率較難以提升;隨著高解析度面板越來越普及,傳統的人眼檢查已難以符合現今需求,以面板的模仁為例,傳統人力檢查一片耗時一小時,且往往良率也不佳,對於導入AOI自動化檢測需求有迫切需要,而又如玻璃材料或是貼合(Optical-Bonding)的面板檢驗,這些在目前缺工且具有經驗的老手不易找尋的情況下,廠商導入AOI進行自動化檢驗為符合時勢所趨。

宇瞻針對面板領域打造完整的解決方案,並可針對需求進行ODM客製化設計一站式服務,滿足面板產業需求。針對產業所需,不論是各式樣面板或面板材料 - 偏光板、增亮膜、導光板或彩色濾光片、模仁等材料和生產設備瑕疵檢測都能提供對應之方案可供客戶選用。

面板材料(偏光板/增亮膜/導光板/彩色濾光片)AOI瑕疵檢測方案

對各種尺寸偏光板/增亮膜/導光板/彩色濾光片等材料進行瑕疵檢測的檢測設備,並可檢出異物、摺痕、壓痕、PVA紋路等各類瑕疵,透過工業用CCD與各式鏡頭和光源,搭配宇瞻獨家開發AOI檢測軟體,可提升客戶在後端檢測的良率和速度,增進效率和生產品質。

面板材料

檢測方案特色

檢測瑕疵標記

鎳板模仁AOI光學檢測解決方案

  • 針對面板材料-鎳板模仁(治具)進行量測設計
  • 亮點/黑點/針孔、凹凸點(痕) 、氧化點、滑角痕/拋光痕/研磨痕、亮/黑線/條紋…等各類瑕疵檢出
  • 搭配點雷射可檢出瑕疵深度
  • CCD 可依pixel及pitch 大小選擇不同解析度,作為瑕疵量測判定,可達精度1µm
  • 一體性及客製化設計,減少無謂的調整及開發費用

搭載宇瞻獨家 CoreSnapshot技術,秒速備份還原資料,確保系統正常

宇瞻特別導入了工業應用之資料與系統備援方案,為客戶所規劃的設備機台,搭載了宇瞻多年在工控儲存領域的專利技術,讓系統與資料一秒還原,避免設備因不可抗力因素造成無法開機或檢測資料異常,確保生產履歷和檢測資料完整。  

自主光學軟體研發與機構規劃, 提供ODM設計製造一站式整合服務

透過上述方案,不僅實務上能幫助面板廠解決目前人工檢驗效率不佳以及良率無法提升的問題,更可協助面板產業邁入智動化領域。宇瞻擁有經驗豐富之自動化團隊,包含檢測軟體、機構設計等皆自主研發,設備可配合客戶需求提供彈性設計,可客製化使用者操作介面並協助產測程式開發,更可結合後端資料庫管理或溯源系統,整合MES/ Shopfloor生產管理系統,提供多樣化之軟體加值服務,並可配合客戶既有產線設備進行整體設計規劃,協助面板產業先進達成智慧升級和提供完整一站式服務。


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